HIOKI เครื่องวัดและวิเคราะห์แอลซีอาร์ LCR Meters, Impedance Analyzers, Capacitance Meters

เครื่องวัดและวิเคราะห์แอลซีอาร์ Impedance Analyzers, up to 3 GHz

HIOKI IM7587 เครื่องวัดแอลซีอาร์ IMPEDANCE ANALYZER

• IMPEDANCE ANALYZER 1 MHz to 3 GHz
• เหมาะสำหรับงาน R&D และ งานผลิต Ferrite chip beads Chip inductor
• ฟังก์ชั่น |Z|, L, C, R testing | วัดค่า LCR และ Conduct frequency sweeps ได้พร้อมกัน
• 0.5ms test speed, ±0.65% accuracy, 0.07% variability
• Comparator and Contact Check

รายละเอียดเพิ่มเติม

HIOKI IM7580A เครื่องวัดแอลซีอาร์ IMPEDANCE ANALYZER

• IMPEDANCE ANALYZER 1MHz to 300MHz
• เหมาะสำหรับงาน R&D และ งานตรวจสอบการผลิตที่มีปริมาณมาก
• ฟังก์ชั่น |Z|, L, C, R testing | วัดค่า LCR และ Conduct frequency sweeps ได้พร้อมกัน
• 0.5ms test speed, ±0.72% accuracy
• Comparator and Contact Check

รายละเอียดเพิ่มเติม

HIOKI IM7581 เครื่องวัดแอลซีอาร์ IMPEDANCE ANALYZER

• IMPEDANCE ANALYZER 100kHz to 300MHz
• เหมาะสำหรับงานผลิต Ferrite chip beads Chip inductor ที่มีปริมาณมาก
• ฟังก์ชั่น |Z|, L, C, R testing | วัดค่า LCR และ Conduct frequency sweeps ได้พร้อมกัน
• 0.5ms test speed, ±0.72% accuracy
• Comparator and Contact Check

รายละเอียดเพิ่มเติม

HIOKI IM7585 เครื่องวัดแอลซีอาร์ IMPEDANCE ANALYZER

• IMPEDANCE ANALYZER 1MHz to 1.3GHz
• เหมาะสำหรับงาน R&D และ งานผลิต Ferrite chip beads Chip inductor
• ฟังก์ชั่น |Z|, L, C, R testing | วัดค่า LCR และ Conduct frequency sweeps ได้พร้อมกัน
• 0.5ms test speed, ±0.72% accuracy
• Comparator and Contact Check

รายละเอียดเพิ่มเติม

HIOKI IM7583 เครื่องวัดแอลซีอาร์ IMPEDANCE ANALYZER

• IMPEDANCE ANALYZER 1MHz to 600MHz
• เหมาะสำหรับงานผลิต Ferrite chip beads Chip inductor ที่มีปริมาณมาก
• ฟังก์ชั่น |Z|, L, C, R testing | วัดค่า LCR และ Conduct frequency sweeps ได้พร้อมกัน
• 0.5ms test speed, ±0.65% accuracy
• Comprehensive contact check via DCR testing, Hi-Z reject or waveform judgment

รายละเอียดเพิ่มเติม

เครื่องวัดแอลซีอาร์ LCR Meters, up to 10 MHz

Hioki IM3523 เครื่องวัดแอลซีอาร์ LCR METER

• เครื่องวัดแอลซีอาร์ LCR METER 40 Hz to 200 kHz
• เครื่องวัดแอลซีอาร์รุ่นประหยัดเหมาะสำหรับไลน์ผลิตสินค้า
• ฟังก์ชั่น |Z|, L, C, R testing | Comparator & BIN
• 2 ms test speed, ±0.05% accuracy
• การทดสอบอย่างต่อเนื่องในสภาวะการวัดแบบผสม รวมถึง C-D (120 Hz) และ ESR (100 kHz)

รายละเอียดเพิ่มเติม

Hioki IM3533 เครื่องวัดแอลซีอาร์ LCR METER

• เครื่องวัดแอลซีอาร์ LCR METER 1 mHz to 200 kHz
• Built-in low impedance high precision mode สำหรับการทดสอบ low inductance หรือ ESR of aluminum electrolysis capacitance
• ฟังก์ชั่น |Z|, L, C, R testing | Transformer measurement mode
• 2 ms test speed, ±0.05% accuracy
• Turn ratio, mutual inductance and inductance difference measurements of transformers and coils

รายละเอียดเพิ่มเติม

Hioki 3511-50 เครื่องวัดแอลซีอาร์ LCR HiTESTER

• เครื่องวัดแอลซีอาร์ LCR HiTESTER 120 Hz or 1 kHz
• Integrate into automated production lines
• ฟังก์ชั่น |Z|, L, C, R testing | High-speed comparator
• 5 ms test speed, ±0.08% accuracy
• On-board testing of capacitors and coils

รายละเอียดเพิ่มเติม

เครื่องวัดแอลซีอาร์ Capacitance Meters, up to 1 MHz

Hioki 3506-10 เครื่องวัดแอลซีอาร์ C METER

• เครื่องวัดแอลซีอาร์ C METER 1 kHz or 1 MHz
• High speed testing of ceramic capacitors on production lines
• ฟังก์ชั่น C, D, (tan δ), Q, low capacitance testing
• 1.5 ms test speed (1MHz), ±0.14% accuracy
• Integrate with automatic taping machines and sorters for production of MLCC (multi-layer ceramic capacitors)

รายละเอียดเพิ่มเติม

Hioki 3504 เครื่องวัดแอลซีอาร์ C HiTESTER

• เครื่องวัดแอลซีอาร์ C METER 120Hz or 1kHz
• Capacitance testing with voltage dependency characteristics through the use of constant voltage testing (CV)
• ฟังก์ชั่น C, D (tan δ), large capacitance MLCC testing
• 2 ms test speed, ±0.09% accuracy
• High speed inspection of Multi-Layer Ceramic Capacitors (MLCC) on taping machines
• Detect contact failure on all 4 terminals for increased reliability

รายละเอียดเพิ่มเติม

Test fixture or Probes

Hioki IM9201 SMD TEST FIXTURE

• SMD Test fixture สำหรับ IM7580 series Impedance Analyzers
• High frequency analysis
• For direct connection two-wire testing
• DC to 3 GHz
• 6 measurable sample sizes: 0201 to 1210 (EIA)

รายละเอียดเพิ่มเติม

Hioki IM9110 SMD TEST FIXTURE

• High-precision two-wire fixture
• High reproducibility with advanced contact technology
• For direct connection two-wire testing
• DC to 1 MHz
• Measurable sample size: 008004 (EIA)

รายละเอียดเพิ่มเติม

Hioki IM9100 SMD TEST FIXTURE

• High-precision 4-wire testing of advanced electronic components
• Direct-connection testing
• Test SMDs with electrodes on the bottom
• DC to 8MHz
• Measurable sample sizes: 01005 to 0402 (EIA)

รายละเอียดเพิ่มเติม

Hioki L2001 PINCHER PROBE

• 2-wire probe for LCR testing of small chip components
• DC to 8MHz, 50Ω termination
• Tip electrode spacing: 0.3 to 6 mm
• Measurable sample size: 0603 (EIA)

รายละเอียดเพิ่มเติม